Sirkuit Uniwell papan uji semikonduktor 32 lapis

Karakteristik proses inti
Parameter dasar: Terbuat dari bahan lembaran TG tinggi, dengan ketebalan sekitar 4,8-5,0mm, permukaannya dilapisi dengan emas pelapisan lokal, dan lengkungan dikontrol secara ketat dalam waktu Kurang dari atau sama dengan 0,3%, memenuhi persyaratan kerataan presisi tinggi dalam skenario pengujian semikonduktor.
Teknologi presisi: Mendukung desain ruang dalam minimum 0,17 mm, dipasangkan dengan teknologi lubang sumbat resin, dengan bukaan minimum 0,4 mm, cocok untuk persyaratan kabel berdensitas tinggi, dan termasuk dalam produk PCB kelas atas dengan rasio ketebalan dan diameter tinggi.

Area aplikasi utama
Papan uji semikonduktor jenis ini termasuk dalam komponen pendukung inti rantai industri semikonduktor, terutama dibagi menjadi tiga kategori: papan kartu probe, papan beban uji, dan papan penuaan. Skenario aplikasi inti meliputi:

Proses verifikasi fungsional dan pengujian kinerja setelah pengemasan chip memastikan kalibrasi parameter dan penyaringan produk yang baik sebelum chip meninggalkan pabrik.

Pengujian keandalan chip-kelas atas yang sudah tua, menyimulasikan kondisi kerja ekstrem untuk memverifikasi stabilitas-pengoperasian chip dalam jangka panjang
Ekstensi downstream mencakup-skenario pengujian chip kelas atas di pusat data, server AI, peralatan komunikasi-kelas atas, kontrol industri, industri kedirgantaraan dan militer, memberikan dukungan pengujian untuk pengoperasian stabil chip dengan daya komputasi tinggi dan keandalan tinggi.