Papan pengujian inti HWHS Sirkuit Uniwell 6 lapis

Jaminan keakuratan proses: mengandalkan teknologi pemrosesan presisi tinggi-, lebar garis/jarak garis minimum dapat mencapai 3/3mil, mendukung proses pengeboran lubang mikro laser, dengan bukaan minimum 0,1 mm, akurasi penyelarasan antar lapisan yang sangat baik, secara efektif menghindari ketidaksejajaran antar lapisan, gangguan sinyal, dan masalah lainnya.
Performa keandalan: Kelengkungan papan dikontrol pada tingkat yang sangat rendah melalui teknologi ikatan vakum, dikombinasikan dengan teknologi perlindungan lingkungan{0}}bebas timbal, sesuai dengan standar sertifikasi RoHS dan UL, dan tahan terhadap siklus suhu tinggi dan pengujian penuaan jangka panjang, sehingga memastikan proses pengujian yang stabil dan bebas kesalahan.
Desain struktural khusus: Permukaan papan disusun dengan bantalan uji padat dan struktur jari emas untuk memenuhi persyaratan pengujian kontak probe. Perbedaan ketinggian bantalan area BGA dikontrol dalam rentang yang sangat kecil untuk memastikan kontak probe stabil selama pengujian.

Pengujian chip semikonduktor: dapat digunakan dalam proses pengujian wafer untuk menyaring parameter listrik butiran wafer sebelum pengemasan chip, menghindari biaya pengemasan yang tidak efektif; Ini juga dapat digunakan sebagai papan beban pengujian produk jadi untuk menyelesaikan verifikasi fungsional IC yang dikemas, memastikan bahwa kecepatan chip, konsumsi daya, integritas sinyal, dan indikator lainnya memenuhi spesifikasi desain.

Pengujian penuaan dengan keandalan tinggi: Cocok untuk skenario pengujian penuaan-suhu dan-tekanan tinggi pada chip kelas otomotif dan kelas industri, mempercepat paparan masalah kegagalan chip awal dan secara signifikan meningkatkan keandalan operasional-jangka panjang produk.
Dukungan bidang elektronik kelas atas: Hal ini juga dapat diperluas ke stasiun pangkalan komunikasi, kontrol industri, elektronik medis, ruang angkasa, dan bidang lain yang memerlukan kinerja PCB yang ketat, memberikan dukungan perangkat keras yang stabil untuk penelitian dan pengujian pengembangan perangkat elektronik-performa tinggi.